基于TOC理论的OEE的应用

• 作者: 朱虹 钱省三
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 社会科学
• 关键词: 设备综合效率 约束理论 设备固有效率
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 观察与思考
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: C37|C931.6
• 字数: 2744字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2005.08.002

摘要

在介绍OEE与TOC理论的基础上,将两者的优缺点互补,引入IEE概念进行瓶颈诊断,开展了TPM活动以提高系统整体效率,同时提出一宏观与微观相结合的企业数据收集与处理模型.结合目前国内半导体厂实时性差的特点,介绍了一晶圆制造过程实时系统工作流程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱省三	上海理工大学工业工程研究所微电子发展研究中心	182	2387	26.0	41.0
2	朱虹	上海理工大学工业工程研究所微电子发展研究中心	1	31	1.0	1.0