SiO2图像分析法统计颗粒数对粒径影响的研究

• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 图像分析 SiO2微球 颗粒数 粒径
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 测试方法应用
• 页码范围: 216-218
• 页数: 3页
• 分类号: TF1
• 语种: 中文

摘要

采用图像分析法[1]对SiO2颗粒的透射电镜[2～3]照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响.同时与光子相关法[4]的结果进行对比.实验结果表明:对于呈球形且单分散的颗粒而言,利用图像分析法测量其粒径时选择颗粒数大于100个即可,且统计颗粒数大于2500个时所得结果更接近其真实值.