前向大角度法测量亚微米级颗粒

• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 前向大角度法 颗粒测量 亚微米
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 测试方法研究
• 页码范围: 67-75
• 页数: 9页
• 分类号: TB3
• 语种: 中文

摘要

采用Mie散射理论,分析了亚微米级颗粒散射光角度分布特征,研究了粒径、折射率等参数对散射光分布特点的影响.研究发现,将散射光强度的角度分布进行归一化后,前向30°部分范围内的分布特性近似为线性,且呈现斜率与颗粒粒径相关,而与折射率无关的特点.在此基础上,本文中提出一种新的测量方法--前向大角度法,即通过测量散射光在前向30°范围内的光强线性变化的斜率来直接得到亚微米级颗粒的平均粒径.文中讨论了该方法的适用范围、近似表达式、误差分析等.