一种新颖IP核复用SOC的DFT结构--BS-TW

• 作者: 张金艺 李娇 程东方 赵存刚 高辉
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 测试开销 TAM 测试围绕环 测试并行化
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 元器件及其应用
• 页码范围: 55-57,25
• 页数: 4页
• 分类号: TN702
• 字数: 2228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2005.01.017

摘要

提出了一种基于IP复用SOC的新颖DFT结构--BS-TW(Boundary Scan TestWrapper),此结构把边界扫描单元作为IP的测试围绕单元,实现了测试并行化,并对测试进入机制TAM进行了优化设计.经验证,用BS-TW结构实现的DFT能同时实现IP复用SOC的低测试开销和高故障覆盖率的目标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张金艺	上海大学微电子研究与开发中心	58	271	8.0	14.0
2	程东方	上海大学微电子研究与开发中心	18	112	6.0	10.0
3	李娇	上海大学微电子研究与开发中心	12	48	3.0	6.0
4	高辉	上海大学微电子研究与开发中心	3	22	2.0	3.0
5	赵存刚	上海大学微电子研究与开发中心	2	5	2.0	2.0