消光法粒度测量中折射率反演问题研究

• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 颗粒测量 Mie散射 反演
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 测试方法研究
• 页码范围: 119-121
• 页数: 3页
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

多波长消光法粒度测量中,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法可以对折射率进行反演.相比于传统的优化方法,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解.反演采用的波长数目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性.