数字晶体管及其测试

• 作者: 吴振江
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 数字晶体管 内置电阻 导通 截止
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 测试与可靠性
• 页码范围: 23-26
• 页数: 4页
• 分类号: TN32|TN307
• 字数: 2001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2005.12.006

摘要

文章介绍了常用数字晶体管的一般型号产品.重点介绍了数字晶体管中内置电阻的测试原理,介绍了数字晶体管中内置电阻精确的计算机测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴振江		1	1	1.0	1.0