用光腔衰荡光谱法判断钕玻璃体损伤的产生

• 作者: 任寰 何钱军 彭勇 易亨渝 蒋晓东 黄祖鑫
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光腔衰荡光谱 钕玻璃 透过率 体损伤 激光能量密度
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 光电检测
• 页码范围: 54-56,60
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2127字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2005.06.017

摘要

运用光腔衰荡光谱技术测量钕玻璃在激光辐照下其透过率的变化,判断出钕玻璃体损伤的产生.实验采用直腔型衰荡光腔,通过检测钕玻璃在强激光辐照下产生应力时其透过率的变化,测试出了钕玻璃在强激光辐照下产生体损伤的激光能量密度.该测试方法灵敏度高,且对测试元件无破坏作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任寰	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	22	177	10.0	13.0
2	蒋晓东	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	47	476	14.0	19.0
3	黄祖鑫	中国工程物理研究院应用电子学研究所	14	135	7.0	11.0
7	彭勇	中国工程物理研究院应用电子学研究所	15	127	7.0	11.0
8	何钱军	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	1	2	1.0	1.0
9	易亨渝	中国工程物理研究院应用电子学研究所	1	2	1.0	1.0