几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

• 作者: 游俊富 王虎 赵海山
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱 离子图像
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 仪器评介
• 页码范围: 39-41,38
• 页数: 4页
• 分类号: TH7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2005.01.014

摘要

本文简要叙述法国CAMECA公司,德国ION TOF GmbH公司新型的Nano SIMS50 IMS WF IMS SC UITRA TOF SIMS IV型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的仪器部件的原理、性能及功用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王虎		10	74	4.0	8.0
2	游俊富		9	71	4.0	8.0
3	赵海山		7	45	3.0	6.0