超声底波成像方法研究

• 作者: 孙朝明 徐彦霖 李建文 王增勇
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 超声检测 缺陷波 幅值成像 深度成像 底波成像 盲区
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 457-459
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1831字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2005.09.003

摘要

针对超声缺陷波成像检测的盲区问题,研究了利用超声底部回波信号进行成像的方法.采用缺陷波幅值成像、缺陷波深度成像和底波幅值成像三种成像方式对ZGS对比试块上的9个不同深度的φ2 mm平底孔进行了检测.对比试验表明,超声底波成像方法可用较低的系统增益检测出缺陷,也能检测出用缺陷波幅值成像方法时近表面盲区部位的缺陷,是缺陷信号幅值成像方法的有效补充.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建文	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	34	132	7.0	10.0
2	徐彦霖	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	17	165	7.0	12.0
3	王增勇	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	46	187	7.0	12.0
4	孙朝明	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	60	259	9.0	13.0