单片机技术在时间继电器测试中的研究

• 作者: 朱守敏 钱金川
• 来源期刊: 机床电器
• 学科: 工学
• 关键词: 时间继电器延时参数测试 单片机工作框图 软件流程图 外围硬件线路及EMC介绍
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 制造·测试
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1|TM587.2
• 字数: 3439字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-0420.2005.06.002

摘要

本文介绍时间继电器延时参数的测试,并对单片机测试框图以及软件流程也进行了相应介绍.另外对检测的外围线路以及对在检测过程中的电磁兼容EMC问题也进行了相关介绍和说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱守敏		25	56	3.0	6.0
2	钱金川		34	73	4.0	8.0