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摘要:
光学畸变普遍存在于高精度光电测量设备系统中,是影响系统测量精度的一个重要因素.在分析多CCD拼接相机结构理论基础上,提出了多CCD拼接相机系统畸变误差模型,同时提出了测量该系统中畸变误差的方法以及修正方法.大量实验结果表明,利用该检测方法与修正方法能够显著提高该系统测量精度,该方法可行且对其他光电测量设备有参考价值.
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文献信息
篇名 多CCD拼接相机系统中畸变误差研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 CCD拼接 光学畸变 脱靶量
年,卷(期) 2005,(2) 所属期刊栏目 光电技术应用
研究方向 页码范围 161-163
页数 3页 分类号 TP212.14
字数 2066字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.02.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王军 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 176 3989 26.0 60.0
2 何昕 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 128 1115 19.0 24.0
3 郝志航 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 63 965 19.0 28.0
4 杨会玲 7 84 6.0 7.0
5 鲍海明 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 9 100 6.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
CCD拼接
光学畸变
脱靶量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
总被引数(次)
22967
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