K2SiF6法测定萤石中SiO2结果偏低原因的探讨

• 作者: 阳小宇
• 来源期刊: 玻璃
• 学科: 工学
• 关键词: K2SiF6 测定 萤石 SiO2
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 生产经验
• 页码范围: 38-40,61
• 页数: 4页
• 分类号: TQ171
• 字数: 2853字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1987.2005.04.013

摘要

通过实验对K2SiF6法测定萤石中SiO2结果进行了分析,探讨了造成结果偏低的原因,总结了最佳条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阳小宇		29	66	5.0	6.0