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摘要:
静电损伤在电子元器件失效中一直是一个重要的失效模式,近几十年人们对电子元器件的抗静电损伤的研究中也建立了各种模拟实际环境的静电放电模型,本文将着重介绍最基本的三种针对电子元器件的静电模型的特征及静电敏感度划分.这三种基本静电模型是:人体放电模型、带电器件放电模型、机器放电模型.
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文献信息
篇名 电子元器件静电放电模型及适用范围浅析
来源期刊 电子质量 学科
关键词 静电放电 人体模型 机器模型 带电器件模型
年,卷(期) 2005,(8) 所属期刊栏目 可靠性分析与研究
研究方向 页码范围 24-25
页数 2页 分类号 TN60
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.08.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王文双 2 3 1.0 1.0
2 许少辉 1 1 1.0 1.0
3 王小强 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
静电放电
人体模型
机器模型
带电器件模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
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