圆柱形设备内部缺陷的红外无损检测

• 作者: 刘慧开 孙丰瑞 杨立
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外无损检测 数值计算 红外诊断 红外热像图
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 红外应用
• 页码范围: 89-92
• 页数: 4页
• 分类号: TN219
• 字数: 1954字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.021

摘要

用有限元方法计算了圆柱形设备存在空泡缺陷或裂缝时的横截面与外表面温度场,给出了热像的决定因素-表面温差同缺陷尺寸和位置的关系,最后用红外热像仪进行了实验验证.通过理论计算和实验验证,发现当缺陷的导热系数小于设备的导热系数时,表面温差与缺陷的尺寸和位置基本呈指数关系增长.