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摘要:
采用化学溶液沉积(CSD)工艺在Si(100)衬底上制备了i22Ti2O7(BTO(和(LaxBi1-x)2Ti2O7(BLT(铁电薄膜,薄膜的X射线衍射(XRD)结果显示其具有较好的结晶性,运用X射线光电能谱仪(XPS)对薄膜的结构进行了研究,分析结果表明,薄膜中氧空位的出现影响了其相的稳定性,通过掺La可以改善其性能.
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文献信息
篇名 (LaxBi1-x)2Ti2O7薄膜X射线光电子能谱研究
来源期刊 压电与声光 学科 工学
关键词 介电薄膜 化学溶液沉积(CSD) X射线光电能谱仪(XPS)
年,卷(期) 2005,(1) 所属期刊栏目 单晶、薄膜及其他功能材料
研究方向 页码范围 50-52
页数 3页 分类号 TN22+3
字数 1565字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-2474.2005.01.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘维民 中国科学院兰州化学物理研究所国家重点实验室 307 5597 38.0 57.0
传播情况
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2005(0)
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研究主题发展历程
节点文献
介电薄膜
化学溶液沉积(CSD)
X射线光电能谱仪(XPS)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
压电与声光
双月刊
1004-2474
50-1091/TN
大16开
重庆市南岸区南坪花园路14号
1979
chi
出版文献量(篇)
4833
总下载数(次)
4
总被引数(次)
27715
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