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飞利浦向客户提供功率半导体器件热模型
飞利浦向客户提供功率半导体器件热模型
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摘要：
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半导体功率器件直流特性的自动脉冲测量
大功率场效应晶体管
自加热效应
脉冲电压
自动测量
基于失效机理的半导体器件寿命模型研究
半导体器件
加速寿命试验
失效机理
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
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期刊影响力
电子技术
主办单位：
上海市电子学会
上海市通信学会
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-0755
CN：
31-1323/TN
开本：
大16开
出版地：
上海市长宁区泉口路274号
邮发代号：
4-141
创刊时间：
1963
语种：
chi
出版文献量（篇）
5480
总下载数（次）
19
总被引数（次）
22245
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