Y元素对Sr0.5Ba0.5-yYyTiO3薄膜结构与性能影响的研究

• 作者: 付兴华 傅正义 王宝娟 耿浩然
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: SBT介电薄膜材料 介电性能 施主掺杂 结构特征
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TB383
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2005.05.001

摘要

为了研究掺杂BaxSr1-xTiO3介电薄膜材料的性能,采用阻抗分析仪等测试方法研究了微量元素钇对Sr0.5Ba0.5-yYyTiO3薄膜介电性能的影响.当Y元素的掺量为0～0.030mol时,相对介电常数εr和tanδ分别为74.2和0.067;最大介电常数温度点Tm(居里温度点)逐渐移向低温;在所测试频率范围内,Y元素的掺量为0.010、0.0150mol(Y2、Y3)时,ε r、tanδ均能表现出较好的频散特性.采用XRD、TEM等测试方法分析了薄膜的结构特征.薄膜的矿物组成为四方钙钛矿结构,但Y的溶入改变了晶胞参数的c/a比,减小了薄膜的颗粒尺寸,提高了薄膜的致密度;晶粒的生长为取向一致和无取向生长两种方式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	耿浩然	济南大学材料科学与工程学院	109	1049	17.0	28.0
2	付兴华	济南大学材料科学与工程学院	56	382	10.0	17.0
4	傅正义	武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室	144	1583	22.0	32.0
7	王宝娟	济南大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0