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摘要:
利用ATR单点全反射技术以及XPS(X光电子能谱)测试方法对聚苯乙烯/聚二甲基硅氧烷嵌段(PS-b-PDMS)和接枝共聚物(PS-g-PDMS)进行了研究,发现聚合物膜表面存在着有机硅富集层,PS-b-PDMS有机硅表面富集程度要高于PS-g-PDMS,而且不同溶解度参数的成膜溶剂和不同极性的成膜介质对有机硅富集程度有一定的影响.
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文献信息
篇名 聚苯乙烯/聚二甲基硅氧烷嵌段与接枝共聚物表面聚集态的研究
来源期刊 高分子学报 学科
关键词 L:PS-b-PDMS PS-g-PDMS ATR-FTIR XPS 表面富集
年,卷(期) 2005,(1) 所属期刊栏目 论文
研究方向 页码范围 137-141
页数 5页 分类号
字数 3998字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3304.2005.01.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡福增 华东理工大学超细材料制备与应用教育部重点实验室 52 766 17.0 25.0
2 吴宁晶 华东理工大学超细材料制备与应用教育部重点实验室 9 56 5.0 7.0
3 黄礼侃 华东理工大学超细材料制备与应用教育部重点实验室 6 52 5.0 6.0
4 郑安呐 华东理工大学超细材料制备与应用教育部重点实验室 99 753 15.0 22.0
5 管涌 华东理工大学超细材料制备与应用教育部重点实验室 29 56 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
L:PS-b-PDMS
PS-g-PDMS
ATR-FTIR
XPS
表面富集
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
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高分子学报
月刊
1000-3304
11-1857/O6
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1957
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