下一代自动测试系统体系结构与关键技术

• 作者: 于劲松 李行善
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 自动测试系统 体系结构 关键技术
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 1-3,17
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2005.01.001

摘要

在总结自动测试系统发展现状的基础上,以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景,分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准,重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术,希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李行善	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	51	1697	21.0	41.0
2	于劲松	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	68	1241	19.0	34.0