红外焦平面阵列盲元检测技术研究

• 作者: 刘上乾 周慧鑫 申建华 赖睿
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 盲元 红外成像 红外技术
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 199-201
• 页数: 3页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 1975字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.03.010

摘要

盲元的数量及其分布对红外焦平面阵列器件成像质量的影响较大.在给出盲元定义的基础上,对盲元的各种产生机理进行了分析,并给出了具体的盲元检测方法,为盲元补偿技术的研究提供了理论基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘上乾	西安电子科技大学技术物理学院	128	1852	22.0	36.0
2	周慧鑫	西安电子科技大学技术物理学院	53	892	16.0	28.0
3	赖睿	西安电子科技大学技术物理学院	36	561	14.0	23.0
4	申建华	西安电子科技大学技术物理学院	6	88	4.0	6.0