基于平板探测器的2D-CT成像技术的研究

• 作者: 傅健 路宏年
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 计算机层析成像 平板探测器 2D-CT 3D-CT 射线检测
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 成像光学
• 页码范围: 662-665
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 字数: 3191字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2005.05.044

摘要

大面积非晶硅平板探测器(flat panel detector-FPD)在透射射线成像领域得到越来越多的应用.基于FPD的圆轨道FDK型三维计算机层析成像技术(Computed Tomography,3D-CT)检测速度快,但成像质量不及2D-CT.为发挥3D-CT速度优势,同时提高系统对物体感兴趣区域CT成像的性能,研究了一种基于FPD的、配合3D-CT功能的高像质2D-CT成像技术;提出了一种集噪声抑制、散射校正和高频细节增强于一体的2D-CT投影预处理方法,并完成了基于FPD的2D/3D-CT集成原型系统的研制.系统性能测试结果表明,基于FPD的2D-CT技术成像空间分辨率达3lp/mm,密度分辨率达5‰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅健	北京航空航天大学机械工程及自动化学院	32	359	14.0	18.0
2	路宏年	北京航空航天大学机械工程及自动化学院	70	784	17.0	24.0