一种应用于深亚微米CMOS工艺的ESD保护电路

• 作者: 李智群 王志功 鲍剑
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ESD ESD保护 动态栅极悬浮
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 电路设计与制造
• 页码范围: 27-31,22
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 字数: 2682字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2005.08.008

摘要

本文研究了一种基于动态栅极悬浮技术的ESD保护电路,并根据全芯片ESD防护的要求设计了试验电路.采用TSMC 0.18 μ m CMOS工艺实现了试验电路,测试显示芯片的ESD失效电压达到了7kV.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王志功	东南大学射频与光电集成电路研究所	342	2153	20.0	29.0
2	李智群	东南大学射频与光电集成电路研究所	76	576	10.0	20.0
3	鲍剑	东南大学射频与光电集成电路研究所	2	18	2.0	2.0