射线数字成像检测系统不均匀性分析与校正

• 作者: 张丕壮 李永红 程耀瑜 郭洁
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 射线数字成像 非均匀性校正 CCD相机 暗电流
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 42-45
• 页数: 4页
• 分类号: TH76
• 字数: 2930字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2005.05.012

摘要

图像高低频畸变(即不均匀)会导致射线数字检测系统检测灵敏度的下降和误判,而造成畸变的原因是系统中射线源强度分布不均匀、闪烁体屏发光不均匀、镜头渐晕、科学级CCD暗电流和光响应不均匀.在此分析的基础上提出了一种校正方法,该方法利用实验得出校正矩阵,通过软件校正,先校正CCD暗电流和光响应不均匀性,再对其它三个因素合并校正.在便携式X射线源下,对三号透度计在15mm均匀钢板上的图像进行了校正实验,结果表明,灵敏度由校正前的1.67%提高到1.33%,图像不均匀性得到明显改善, 空间分辨力大于3.5lp/mm.系统具有检测灵敏度高(≤1.5%)和适应射线能量范围大(50keV-15MeV)的优点.