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摘要:
采用商用的光纤熔接机实现了高非线性光子晶体光纤和单模光纤之间的熔接,给出了熔接的过程并指出了熔接过程中要注意的问题.分析了影响熔接损耗的主要因素,理论分析结果和实验结果是一致的.
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文献信息
篇名 高非线性光子晶体光纤与单模光纤之间的熔接及其损耗分析
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 光子晶体光纤 单模光纤 熔接损耗
年,卷(期) 2005,(6) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 535-537
页数 3页 分类号 TN253
字数 1509字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.06.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 余重秀 北京邮电大学电子工程学院 167 966 15.0 21.0
2 桑新柱 北京邮电大学电子工程学院 26 121 7.0 9.0
6 Islam M K 香港城市大学光电子科技研究中心 1 10 1.0 1.0
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2017(1)
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研究主题发展历程
节点文献
光子晶体光纤
单模光纤
熔接损耗
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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