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技术瓶颈有待突破以封装改善LED发光效率
技术瓶颈有待突破以封装改善LED发光效率
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摘要：
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金属针布高耐磨的技术瓶颈与突破
金属针布
齿条
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超细晶粒钢
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脱碳
功能梯度材料
表面纳米化
超音速微粒轰击
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电子测试
主办单位：
北京自动测试技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1000-8519
CN：
11-3927/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市100098－002信箱
邮发代号：
82-870
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
19588
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63
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