彩色显像管电子束配列智能测试系统研制

• 作者: 应根裕 汪健如 童清化
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 彩色显像管 色纯 着屏误差 配列因子 自动聚焦
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.3
• 字数: 3464字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2005.01.001

摘要

通过使用CCD采集电子束图像,来测试电子束着屏误差、电子束宽度、电子束配列因子、黑底配列因子和黑底条宽等五个参数,本系统由计算机作为控制核心,通过专用软件进行实时测量,大大提高了测试效率,实现多参数、全自动测量.针对系统研制过程中的核心问题,文中主要对系统聚焦和图像处理部分进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	童清化	清华大学电子工程系	1	0	0.0	0.0
2	应根裕	清华大学电子工程系	23	61	5.0	7.0
3	汪健如	清华大学电子工程系	13	18	2.0	4.0