数字信息技术设备电磁泄漏频谱的测试与分析

• 作者: 侯德亭 周长林 常青美 朱忠义
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁兼容性 信息技术设备 数字信号 辐射发射 电磁泄漏 频谱分析
• 年，卷（期）: 2005,（17）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 189-190
• 页数: 2页
• 分类号: TP23|TP39
• 字数: 1554字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2005.17.070

摘要

分析了以计算机为核心的信息技术设备的电磁辐射机理,模拟出了矩型脉冲信号的差模辐射频谱和三角脉冲信号的共模辐射频谱.测试了PⅢ800 计算机主机及显示器的电磁发射电场强度,并对结果进行了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯德亭	信息工程大学理学院	43	136	6.0	9.0
2	常青美	信息工程大学理学院	8	59	4.0	7.0
3	周长林	信息工程大学理学院	14	69	5.0	8.0
4	朱忠义	信息工程大学理学院	3	18	2.0	3.0