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原文服务方: 电子质量       
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GaN微电子器件的研究进展
GaN
GaN材科
GaN器件
电力电子器件仿真模型设计及测试研究
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Matlab
电子器件发热与冷却技术
电子器件
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冷却技术
微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型
微电子器件
失效机理
快速评价
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 微电子器件测试技术(中)
来源期刊 电子质量 学科
关键词
年,卷(期) 2005,(7) 所属期刊栏目 理论与研究
研究方向 页码范围 7-9
页数 3页 分类号 TN2
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.07.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙铣 9 7 1.0 2.0
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
论文1v1指导