深亚微米IC物理设计流程中的串扰控制

• 作者: 周凤亭 王胤翔 陆生礼
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 信号完整性 串扰噪声 噪声预防 噪声修复
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 146-149
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2660字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2005.01.037

摘要

信号完整性的设计收敛已经成为当前深亚微米集成电路物理设计流程中的关键问题.对信号完整性收敛产生不利影响的有三个因素:串扰、直流电压降和电迁移.其中影响最大的是串扰,串扰噪声会产生大量的时序违规、逻辑错误.主要关注基于串扰控制的物理设计方法,包括新的流程、各个设计阶段对串扰的分析及修正的方法,以达到快速的时序收敛.并且根据真实的设计实例,提出了几点有效的控制串扰的方法和对于信号完整性管理比较有价值的观点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆生礼	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	54	449	12.0	18.0
2	周凤亭	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	2	25	2.0	2.0
3	王胤翔	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	2	25	2.0	2.0