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摘要:
在模拟集成电路的应用中,不仅注重器件fT,而且注重晶体管最高振荡频率(fmax).文中以MBE生长的SiGe材料为基础,进行了提高SiGe HBT器件fmax的研究,研制出了fmax=157GHz的SiGe HBT器件.
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基于60 nm T型栅fT & fmax为170 & 210 GHz的InAlN/GaN HFETs器件
InAlN/GaN
异质结场效应晶体管(HFETs)
电流增益截止频率(fT)
最大振荡频率(fmax)
基于MOCVD再生长n+ GaN欧姆接触工艺fT/fmax>150/210 GHz的AlGaN/GaN HFETs器件研究
AlGaN/GaN
异质结场效应晶体管
电流增益截止频率
最大振荡频率
再生长欧姆接触
最大振荡频率为200GHz的蓝宝石衬底AlGaN/GaN HEMT
AlGaN/GaN
HEMT
蓝宝石衬底
fmax
InGaN背势垒
湿法腐蚀
功率增益截止频率为183GHz的In0.53Ga0.47As/In0.52Al0.48As HEMTs
最大振荡频率/功率增益截止频率
高电子迁移率晶体管
InGaAs/InAlAs
InP
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于MBE的fmax为157GHz的SiGeHBT器件
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 自对准 空气桥 SiGe合金材料
年,卷(期) 2005,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 528-531
页数 4页 分类号 TN323+.4
字数 1283字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.03.020
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研究主题发展历程
节点文献
自对准
空气桥
SiGe合金材料
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
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