多芯片组件(MCM)的可测性设计

• 作者: 刘晓巍 华孝泉 张红南 罗丕进 赵琼
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: 多芯片组件 JTAG 可测性设计
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 62-66
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-2472.2005.04.013

摘要

为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试.建立模型进行验证的结果表明:该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95%以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张红南	湖南大学应用物理系	25	100	5.0	8.0
2	华孝泉	湖南大学电气与信息工程学院	4	31	2.0	4.0
3	赵琼	湖南大学应用物理系	3	14	2.0	3.0
4	刘晓巍	湖南大学应用物理系	3	28	2.0	3.0
5	罗丕进	湖南大学应用物理系	2	5	2.0	2.0