ICP-MS法测定钼铁中Sb,Cu,Sn,Si,P元素的研究

• 作者: 党志 刘晶磊 廖世军 章新泉 童迎东 黄冬根
• 来源期刊: 材料研究与应用
• 关键词: ICP-MS 钼铁 杂质元素 分析
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: O657.31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9981.2005.04.006

摘要

将钼铁样品用HNO3低温溶解完全后,加入内标元素45Sc,采用内标法,用ICP-MS仪进行测定.文中讨论了基体钼对测定的影响.本方法的加标回收率为98.0%～102.5%,相对标准偏差RSD为1.6%～3.5%.本方法具有简便、快速、准确等特点,可用于钼铁样品中微量杂质元素的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章新泉		24	237	9.0	14.0
2	廖世军	华南理工大学应用化学系	119	1206	19.0	29.0
3	党志	华南理工大学应用化学系	187	4985	39.0	63.0
4	童迎东		17	177	8.0	12.0
5	黄冬根	华南理工大学应用化学系	13	236	7.0	13.0
6	刘晶磊		12	93	7.0	9.0