射频集成电路测试技术研究

• 作者: 任昶 蒋和全 蒲林
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 射频集成电路 低噪声放大器 微带线 阻抗匹配 集成电路测试
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 110-113
• 页数: 4页
• 分类号: TN722.3
• 字数: 2470字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2005.02.002

摘要

射频集成电路(RF IC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RF IC的性能具有相当的难度.文章以射频低噪声放大器(LNA)为例,运用微波理论,分析了RF IC典型参数,如S参数、带宽、P1dB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法,并对影响RF IC性能测试的主要因素进行了分析.最后,给出了一种LNA电路的测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋和全		14	100	6.0	9.0
5	蒲林		4	21	3.0	4.0
9	任昶		1	11	1.0	1.0