NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

• 来源期刊: 测控自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 第二届 INSTRUMENTS 设计 主办 论坛 测试 验证 美国国家仪器有限公司 NI DESIGN FORUM 2004年 TEST 第一届
• 年，卷（期）: ckzdh_2005,（4）
• 页码范围: 9
• 页数: 1页
• 分类号: TP393

摘要

美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)宣布主办第二届”设计、验证及测试论坛”（Design Validation Test Forum，即DVTF 2005)。延承2004年第一届DVTF的成功之势，