中场测量相控阵扫描方向图的方法研究

• 作者: 李迪 王华
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 中场 相控阵 扫描方向图
• 年，卷（期）: 2005,（7）
• 所属期刊栏目: 天馈伺系统
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: TN821+.8
• 字数: 2046字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7859.2005.07.015

摘要

有源相控阵天线的发射和接收天线的性能依赖于阵面口径的幅相分布,有源相控阵的幅相校准工作通常在出厂前通过暗室中的平面近场测量进行,但是某些大型的有源阵面根本无法进暗室进行校准,利用外场测量进行的校准往往无法验证其结果的好坏,该文介绍了一种中场测量相控阵天线扫描方向图的方法,使校准结果能够得到较为客观的评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李迪		2	17	2.0	2.0
2	王华		3	15	2.0	3.0