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以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件
以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件
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摘要：
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基于DSP的多频带混合信号测试系统
混合信号
A/D
D/A
DSP
测试技术
SoC中混合信号的测试
SoC
混合信号
扫描测试
内置自测试
基于冲突域的测试成本独立决策系统属性约简
决策系统
测试成本独立
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期刊影响力
半导体技术
主办单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-353X
CN：
13-1109/TN
开本：
大16开
出版地：
石家庄179信箱46分箱
邮发代号：
18-65
创刊时间：
1976
语种：
chi
出版文献量（篇）
5044
总下载数（次）
38
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