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摘要:
提出了一种基于光栅成像投影的微位移检测方法,利用光学傅里叶变换原理给出了具体的理论分析.准直激光束照明的光栅通过一个4f系统成像投影在被测物体表面上,光栅投影经过被测物体表面反射后由另一个4f系统成像在探测光栅上.探测光栅由一个透镜组成像在光电探测器上,其中采用由起偏器、光弹调制器和检偏器组成的偏振调制单元对探测光强进行调制.通过在4f系统的频谱面上设置滤波光阑,在光电探测器上获得了与被测物体的微位移成正弦关系的光强变化,检测出光电探测器上的光强变化即可以获得被测物体的位移量.实验验证了该检测方法的可行性,其重复测量精度小于25 nm(1σ).
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文献信息
篇名 基于光栅成像投影的微位移检测方法
来源期刊 中国激光 学科 工学
关键词 测量与计量 微位移 光栅 傅里叶变换 成像投影 光弹调制器
年,卷(期) 2005,(3) 所属期刊栏目 测量技术
研究方向 页码范围 394-398
页数 5页 分类号 TN247
字数 2939字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0258-7025.2005.03.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王向朝 中国科学院上海光学精密机械研究所 170 1628 23.0 35.0
2 曾爱军 中国科学院上海光学精密机械研究所 33 188 8.0 13.0
传播情况
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中国激光
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