电感耦合等离子体质谱法测定纯铝中痕量杂质

• 作者: 李立波 聂西度 谢华林
• 来源期刊: 轻金属
• 学科: 工学
• 关键词: 纯铝 杂质元素 电感耦合等离子体质谱 基体效应 内标元素
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 铝电解
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: TF801.3
• 字数: 2762字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1752.2005.05.009

摘要

建立了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定纯铝中痕量铜、铁、锰、锌、钛、钴、铅、镍和铬等杂质元素的测定方法.考察了基体效应及接口效应对仪器测定灵敏度的影响,选择适当的待测元素同位素克服了质谱干扰,定量加入内标元素有效校正了基体效应、接口效应及仪器波动等因素而带来的测量偏差.结果表明,方法的检出限为0.011～0.12μg/L,回收率为90.0%～106.0%,相对标准偏差(RSD)小于3.57%.该法准确、快速、简便,应用于纯铝中杂质元素的测定,结果满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂西度	湖南工学院化工系	62	303	10.0	13.0
3	谢华林	湖南工学院化工系	22	333	9.0	18.0
4	李立波	中南大学化学化工学院应化系	13	229	7.0	13.0