离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中铬、硅、磷

• 作者: 孙福民 林国强 金德龙 陆晓明
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 离心浇铸 铬铁
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 工作简报
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1521字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2005.01.013

摘要

采用离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中Cr,Si和P,能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确.当Cr,Si,P的质量分数分别为66.04%,0.64%,0.016%,其相对标准偏差分别为0.18%,3.12%,6.25%.该法测定值与化学值相比,一致性较好,能满足常规分析要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆晓明	上海宝钢股份有限公司技术中心	2	18	2.0	2.0
2	金德龙		1	16	1.0	1.0
3	林国强		1	16	1.0	1.0
4	孙福民		1	16	1.0	1.0