基于全微分法解平面尺寸链及孔系坐标公差的计算通式

• 作者: 刘持平 刘洪 王维模 蔡贵溪
• 来源期刊: 现代机械
• 学科: 工学
• 关键词: 全微分 平面尺寸链 坐标公差 角度误差
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 设计·研究·分析
• 页码范围: 29-31,34
• 页数: 4页
• 分类号: TH12
• 字数: 3867字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-6886.2005.06.013

摘要

在工艺尺寸链中,平面尺寸链较为繁杂,在箱体孔系、斜孔加工及装配工艺中常需解算.本文以微分学原理对尺寸公差进行系统处理,不仅简化了分析计算,而且由于同时考虑了常被忽略的角度误差,极大的提高了计算的精确性和合理性,并由此首次推导出孔系坐标公差的极值法公式和概率法公式,极大的方便了机制工艺人员的工艺工装设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘持平	贵州大学机械工程及自动化学院	14	69	4.0	8.0
2	蔡贵溪		3	12	2.0	3.0
3	王维模	贵州大学机械工程及自动化学院	4	12	2.0	3.0
4	刘洪		2	13	2.0	2.0