半导体激光器可靠性评估系统设计

• 作者: 于海鹰 徐萍萍 王林 胡小玲 赵夕彬 阮颖 高国
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 半导体激光器 MOS管驱动电路 温度控制
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 37-38,42
• 页数: 3页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 2515字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2005.09.012

摘要

介绍了一种基于单片机控制的可预置工作电流值、工作温度值的半导体激光器可靠性评估系统的软、硬件设计方法.该方法以89C51单片机为核心部件,通过闭环反馈控制系统对工作电流、工作温度进行比较、调整,提高系统精度.该可靠性评估系统可实时显示工作电流及工作温度值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐萍萍	北京工业大学电控学院	19	191	9.0	13.0
2	王林	北京工业大学电控学院	13	73	3.0	8.0
3	高国	北京工业大学电控学院	22	459	8.0	21.0
4	赵夕彬	中国电子科技集团公司第十三研究所	12	40	3.0	6.0
5	于海鹰	北京工业大学电控学院	6	49	3.0	6.0
6	胡小玲	北京工业大学电控学院	7	36	3.0	5.0
7	阮颖	北京工业大学电控学院	3	29	3.0	3.0