3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究

• 作者: 何丹农 何琳 李刚 王瑞斌 路庆华 钮晓鸣
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 超细颗粒 粒径 光子相关光谱 原子力显微镜 扫描电镜 聚苯乙烯
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 119-121
• 页数: 3页
• 分类号: O432.2
• 字数: 1964字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2005.06.031

摘要

采用聚苯乙烯球形颗粒,对3种常用颗粒粒径测试仪器扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、光子相关光谱仪(PCS)的测试结果进行比对,结果表明,对于球形颗粒,3种测试方法所得到的颗粒粒径具有一致性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王瑞斌	上海交通大学分析测试中心	6	41	4.0	6.0
2	路庆华	上海交通大学分析测试中心	58	456	10.0	19.0
3	李刚	上海交通大学分析测试中心	44	256	8.0	13.0
4	何琳	上海交通大学分析测试中心	16	114	7.0	10.0
5	何丹农		7	31	2.0	5.0
6	钮晓鸣		1	1	1.0	1.0