荧光寿命的锁相检测技术研究

• 作者: 武金玲 王玉田
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 荧光温度传感器 PLD-AMSR 正弦调制
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 光电技术应用
• 页码范围: 359-361
• 页数: 3页
• 分类号: TP212.14
• 字数: 1388字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.04.025

摘要

针对光纤荧光温度传感器中影响系统精用参考信号、用正弦信号来调制激励光源的锁相技术(PLD-AMSR)对荧光光纤温度传感器的荧光寿命进行检测,推导出测量荧光寿命的数学模型.该方法对激励光泄露有抑制作用,使测量精度有了显著提高.实验表明,该方法是有效的,达到了系统要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王玉田	燕山大学电气工程学院	187	2131	24.0	35.0
2	武金玲	燕山大学电气工程学院	4	17	2.0	4.0