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AlxGa1-xAs/GaAs异质结中电子迁移率的压力效应
AlxGa1-xAs/GaAs异质结中电子迁移率的压力效应
作者:
班士良
白鲜萍
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
异质结
电子迁移率
压力效应
摘要:
对AlxGa1-xAs/GaAs半导体单异质结系统,引入有限高势垒与考虑导带弯曲的真实势,同时计入电子对异质结势垒的隧穿,利用变分法和记忆函数方法讨论在界面光学声子和体纵光学声子的散射下,异质结界面附近电子迁移率随温度的变化关系及其压力效应.结果显示:电子迁移率随温度、压力的增加而减小;且两种声子的散射作用均随压力增强,界面光学声子的变化幅度更大.因此,在讨论压力的情形下,界面光学声子的作用不容忽略.
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文献信息
篇名
AlxGa1-xAs/GaAs异质结中电子迁移率的压力效应
来源期刊
半导体学报
学科
物理学
关键词
异质结
电子迁移率
压力效应
年,卷(期)
2005,(12)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
2422-2427
页数
6页
分类号
O471.3
字数
4084字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2005.12.029
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
白鲜萍
内蒙古大学理工学院物理系
20
38
4.0
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2
班士良
内蒙古大学理工学院物理系
58
198
8.0
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研究主题发展历程
节点文献
异质结
电子迁移率
压力效应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
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