VMT在USBD模块验证中的应用

• 作者: 凌明 华锡锋 罗明清 蒋忠平
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: USB 验证IP VIP Vera VMT
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 14-16,59
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 2826字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2005.03.006

摘要

在集成电路设计中,功能验证是主要的瓶颈之一.据估计,验证工作占设计工作开销的60%以上.Synopsys公司VMT(Vera验证模型技术)工具可减小验证的工作量、节约时间.文中描述了使用VMT对USBD(通用串行总线器件)模块的验证,验证了USBD部件符合协议规范、完成系统定义的要求,并对不同的数据传输方式进行比较.本设计已通过MPW(multi-project wafer)流片生产出实际芯片,其效果在实际的芯片上得到了验证,达到了设计的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	凌明	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	76	344	10.0	14.0
2	罗明清	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	4	20	2.0	4.0
3	蒋忠平	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	3	13	2.0	3.0
4	华锡锋	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	3	13	2.0	3.0