存储技术持续推进低成本、非易失FPGA器件受关注

• 作者: 陈恒
• 来源期刊: 电子测试
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 技术探勘
• 页码范围: 76-78
• 页数: 3页
• 字数: 2635字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2005.09.013

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈恒		3	0	0.0	0.0