相位噪声及其测试技术

• 作者: 陈国龙
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 相位噪声 鉴相法 鉴频法 相噪测试 中频频谱分析法
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 16-17,11
• 页数: 3页
• 分类号: TN95
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.02.007

摘要

本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征,并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析,并在此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法--基于带通采样的中频频谱分析法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈国龙	电子科技大学电子工程学院	4	35	2.0	4.0