PMSZT压电陶瓷的烧结工艺研究

• 作者: 孙清池 徐明霞 陆翠敏
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: PMSZT压电陶瓷 保温时间 相组成 显微结构 电性能
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 948-951
• 页数: 4页
• 分类号: TM282
• 字数: 590字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2005.06.044

摘要

研究保温时间对PMSZT压电陶瓷的相组成、显微结构及电性能的影响.结果发现,烧结温度1240℃保温1h时,密度达极值7.83g/cm3.保温1h的试样,晶粒致密均匀,居里温度最低.随着保温时间的缩短或延长,居里温度增加.电性能在保温1h时达最佳,εT33/e0=1700,d33=336pC/N,Kp=0.655,Qm=2200,tgδ=0.0030.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐明霞	天津大学材料科学与工程学院	98	1316	19.0	31.0
2	孙清池	天津大学材料科学与工程学院	51	519	13.0	20.0
3	陆翠敏	天津大学材料科学与工程学院	20	126	7.0	10.0