功率放大器可靠性的新标准

• 来源期刊: 世界电子元器件
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2005,（7）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 46-51
• 页数: 5页
• 分类号: TN7
• 字数: 5005字
• 语种: 中文

摘要

信号传输过程的负载周期,多只天线的整合使得手机对散热要求日益严格,厂商必须确保功率放大器不会受到温度过高的影响.本文给出了平均故障时间的计算方法、热模型的建立和一套用来排除组件寿命不确定性的电路,还就未来如何改善功率放大器的可靠性提出了具体建议.