镍锌铁氧体薄膜的显微结构和低温磁性质

• 作者: 张金仓 曹世勋 王九经 郁黎明
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 镍锌铁氧体 薄膜 溶胶-凝胶法 低温磁性
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 1855-1858
• 页数: 4页
• 分类号: TF123|TM277.1
• 字数: 2892字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2005.12.013

摘要

通过溶胶凝胶甩膜工艺,在抛光的硅晶片(100)基底上制备出Ni0.5Zn0.5Fe2O4(NZF)薄膜并对其结构和磁性的测量结果进行了分析.薄膜表面平整,具有较好的单相结构,其颗粒平均粒径约30nm.制备的NZF薄膜厚度分别约90、120和180nm.实验结果表明,薄膜在低温下表现出自旋玻璃态行为.当外加磁场为7.96×103A/m时,NZF薄膜自旋冻结温度大约在Tf=140K,自旋冻结程度随薄膜厚度增加而降低.在40～300K之间,薄膜饱和磁化强度和矫顽力都随着温度增加而降低.NZF薄膜在T=40K处存在最大磁化强度.较薄薄膜在40K以下饱和磁化强度的降低是因为磁性颗粒表面自旋被部分冻结而导致的磁性离子相互间自旋耦合作用减弱的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹世勋	上海大学物理系	83	211	8.0	12.0
2	张金仓	上海大学物理系	93	237	8.0	11.0
3	郁黎明	上海大学物理系	16	88	4.0	9.0
4	王九经	上海大学物理系	2	48	2.0	2.0